新しく開発される材料は、その特性と機能が発現する根拠を、ミクロの目で明らかにしなければなりません。そこに、材料の微小領域を対象とした局所分析の意義があります。有機・無機材料の局所分析は、電子線やイオンを使用する方法によって結晶構造や元素分析、さらに結合状態をナノメーターのレベルで解析しています。この情報と材料の特性・機能の関係をしたベルことから、新素材の可能性を明らかにし、その開発を大きく前進させます。
走査型プローブ顕微鏡法（SPM）
- 走査型プローブ顕微鏡−ベアリング解析による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡−パワースペクトル密度による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡 −電気力顕微鏡− （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による分析の概要 （材料/ナノ材料）
- AFMを用いた単層カーボンナノチューブの長さ解析 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分散状態観察 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 界面活性剤による単層カーボンナノチューブの孤立分散 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの長さ分布に及ぼす界面活性剤濃度の効果 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- ポリマー材料中に分散したカーボンナノチューブの電気力顕微鏡観察 （材料/ナノ材料）
透過電子顕微鏡法（TEM）
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 複合材料の総合解析モルフォロジー観察 （自動車/高分子材料）
- カーボンブラック（CB）の3D観察（3次元透過型電子顕微鏡観察） （自動車/高分子材料）
- コロイド粒子のTEM観察 （自動車/ 燃料電池・エレクトロニクス/ 燃料電池）
- Cs補正STEM （自動車/パワー半導体）
- Cs補正STEMによる各種材料観察 （自動車/ パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- ヘテロ接合界面に生成した微小ドメインの解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- TEMによるGaN中転移構造の詳細観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- EELSマッピング （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- GaN中の転位解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- 結晶性粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- アモルファス粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- STEM-EDSによるマッピング測定 （エレクトロニクス/記録材料）
- DVD-Rの断面観察（1） （エレクトロニクス/記録材料）
- 粒子径解析ソフトの応用 （エレクトロニクス/記録材料）
- HDD媒体の粒界解析 （エレクトロニクス/記録材料）
- カーボン材料の劣化状態の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- TEMによるブレンドゴムのCBの分析 （材料/高分子材料）
- カラートナーの断面TEM観察 （材料/高分子材料）
- ポリ塩化ビニル製品の表面劣化形態TEM観察 （材料/高分子材料）
- スチレン系ブロック共重合体のTEM観察 （材料/高分子材料）
- ゴム中のフィラーの3D-TEM観察と元素マッピング （材料/高分子材料）
- 高分解能HAADF-STEM像 （材料/無機材料）
- TEMによる単層カーボンナノチューブの直径分布測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- カーボンナノチューブ複合材料のTEM観察 （材料/ナノ材料）
- カーボンナノチューブ（CNT）の低ドーズ測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブ(SWCNT)の高コントラスト測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの直径と積層間隔について （エレクトロニクス/半導体・材料/無機材料、ナノ材料）
走査電子顕微鏡法（1）、走査電子顕微鏡法（2）（SEM）
- 複合材料中充填材の配向度の可視化（成形品の流動解析） （自動車/高分子材料）
- 発光ダイオードの断面観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- Li二次電池正極材料の断面観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の断面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その2 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その3 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- SEMによる 高分子の球晶構造のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる破面観察 （材料/高分子材料）
- FIB-SEM法による樹脂中フィラーの三次元構造解析 （材料/金属・無機材料）
- 低真空SEMによる樹脂中のカーボンナノチューブの観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中のカーボンナノチューブ分散状態SEM観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中カーボンナノチューブ分散状態の立体的観察（ステレオ観察） （材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの長さと直径のSEM測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 反射電子像観察による異物探索 （材料/異物分析）
集束イオンビーム−走査型イオン顕微鏡法（FIB-SIM）
- SIM像を用いたLSIの不良箇所の特定 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- SIM像によるチャネリングコントラスト （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
