新しく開発される材料は、その特性と機能が発現する根拠を、ミクロの目で明らかにしなければなりません。そこに、材料の微小領域を対象とした局所分析の意義があります。有機・無機材料の局所分析は、電子線やイオンを使用する方法によって結晶構造や元素分析、さらに結合状態をナノメーターのレベルで解析しています。この情報と材料の特性・機能の関係を調べることから、新素材の可能性を明らかにし、その開発を大きく前進させます。
トモグラフィー（三次元構造解析）
トモグラフィ―という手法を用いれば、分析対象を連続的に回転または切削し、多数の二次元像をコンピュータで処理することで、三次元構造を可視化することが可能です。さらに、セグメンテーションという画像処理も組み合わせれば、三次元構造の数値化も可能であり、分析対象の深い理解に貢献できます（詳細）。
走査型プローブ顕微鏡法（SPM）
- ピークフォースタッピングモードによる表面形状測定 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡−ベアリング解析による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡−パワースペクトル密度による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡 −電気力顕微鏡− （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による分析の概要 （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による樹脂試料の機械特性測定 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）によるポリマーの機械特性測定例 （材料/高分子材料）
- 吸着力による親水性評価
- ケルビンプローブフォース顕微鏡による表面電位測定
- 拡がり抵抗顕微鏡による抵抗分布測定
- 大腸菌の液中弾性率測定 （材料/高分子材料）
- AFMにおける解析パラメータ
- AFMを用いた単層カーボンナノチューブの長さ解析 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分散状態観察 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 界面活性剤による単層カーボンナノチューブの孤立分散 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの長さ分布に及ぼす界面活性剤濃度の効果 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- ポリマー材料中に分散したカーボンナノチューブの電気力顕微鏡観察 （材料/ナノ材料）
透過電子顕微鏡法（TEM）、走査型透過電子顕微鏡法（STEM）
- セルロースナノファイバー(CNF)のSEM およびSTEM 観察 （材料/金属・無機材料）
- 電子エネルギー損失分光（EELS） （材料/金属・無機材料）
- Electron Energy Loss Spectroscopy（EELS）スペクトル解析 （材料/金属・無機材料）
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 炭素繊維強化プラスチックのEELSラインプロファイル測定 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 複合材料の総合解析モルフォロジー観察 （自動車/高分子材料）
- コロイド粒子のTEM観察 （自動車/燃料電池・エレクトロニクス/燃料電池）
- シリコンドリフト検出器による高感度EDSスペクトルマッピング測定 （材料/触媒・粉体）
- STEM-EDSによるプラスチックレンズ表面コート層の分析 （材料/金属・無機材料）
- FIB-TEM法を用いたコーティング膜（表面処理膜）の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- FIB-STEM法を用いた有機ELディスプレイの分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- FIB法を用いたAl薄膜の断面、平面TEM分析 （材料/金属・無機材料）
- カーボン材料のTEM観察 （材料/触媒・粉体）
- カーボンブラックの低加速電圧による暗視野STEM観察 （材料/触媒・粉体）
- カーボンブラックの電子線損傷の低減 （材料/触媒・粉体）
- Cs 補正STEM による単原子観察 （材料/触媒・粉体）
- 粒子表面に存在するポリマー層のTEM観察 （材料/触媒・粉体）
- Pt/C触媒の耐久性評価 （自動車/燃料電池・エレクトロニクス/燃料電池・材料/触媒・粉体）
- EELSによるPtシェル厚みの測定 （自動車/燃料電池・エレクトロニクス/燃料電池・材料/触媒）
- 暗視野STEM像によるPt粒子の露出結晶面の解析 （自動車/燃料電池・エレクトロニクス/燃料電池・材料/触媒）
- Cs補正STEM （自動車/パワー半導体）
- Cs補正STEMによる各種材料観察 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- ヘテロ接合界面に生成した微小ドメインの解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- 半導体ヘテロ接合界面のTEMひずみ解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- TEMによるGaN中転移構造の詳細観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- GaN反転ドメイン境界の構造解析 （材料/金属・無機材料）
- 収束電子線回折像シミュレーションプログラム
- EELSマッピング （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- 結晶性粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- アモルファス粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- STEM-EDSによるマッピング測定 （エレクトロニクス/記録材料）
- コロイド粒子のEDSマッピング （材料/触媒・粉体）
- PtRu合金触媒のSTEM-EDS分析 （材料/触媒・粉体）
- DVD-Rの断面観察（1） （エレクトロニクス/記録材料）
- 断面TEMによる研磨面の評価 （材料/高分子材料、金属・無機材料）
- サファイア基板上低温バッファ層のモザイク構造解析 （材料/金属・無機材料）
- 画像解析による粒界層の解析 （エレクトロニクス/記録材料）
- 粒子径解析ソフトの応用 （エレクトロニクス/記録材料）
- 垂直磁気記録媒体の断面および平面構造解析 （エレクトロニクス/記録材料）
- HDD媒体の粒界解析 （エレクトロニクス/記録材料）
- カーボン材料の劣化状態の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- TEMによるブレンドゴムのCBの分析 （材料/高分子材料）
- 大腸菌のTEM観察 （材料/高分子材料）
- 毛髪のTEM観察 （材料/高分子材料）
- カラートナーの断面TEM観察 （材料/高分子材料）
- ポリ塩化ビニル製品の表面劣化形態TEM観察 （材料/高分子材料）
- 無染色によるポリマーアロイの相分離構造観察 （材料/高分子材料）
- 電子回折（ED）パターンにおける結晶性 （材料/金属・無機材料）
- 電子回折法による土壌鉱物の同定 （材料/金属・無機材料）
- 電子回折および高速フーリエ変換（FFT）パターンについて （材料/金属・無機材料）
- 電子回折パターンを用いた結晶性材料の定性分析 （材料/金属・無機材料）
- 電子線動径分布解析法によるAuナノ粒子の構造解析
- TEMによる単層カーボンナノチューブの直径分布測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- カーボンナノチューブ複合材料のTEM観察 （材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブ(SWCNT)の高コントラスト測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの直径と積層間隔について （エレクトロニクス/半導体・材料/無機材料、ナノ材料）
- 電子回折法を用いた炭素繊維の積層構造の評価（材料/高分子材料）
- FIB-TEM法を用いたSiウエハ上の微小異物の分析（エレクトロニクス/半導体）
- SEM-EBSD法を用いた指定結晶粒界部のFIB-TEM分析（エレクトロニクス/記録材料、材料/金属・無機材料）
- FIB-TEM法を用いたパターン配線上の微小異常部の分析（エレクトロニクス/半導体）
走査電子顕微鏡法（1）、走査電子顕微鏡法（2）（SEM）
- 複合材料中充填材の配向度の可視化（成形品の流動解析） （自動車/高分子材料）
- 発光ダイオードの断面観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- Li二次電池正極材料の断面観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の断面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その2 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その3 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 大きな試料のSEM-EDS分析
- SEMによる 高分子の球晶構造のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる各種試料の観察 （材料/高分子材料）
- セルロースのSEM観察 （材料/高分子材料）
- 毛髪のSEM観察 （材料/高分子材料）
- イオン液体を浸漬させたムラサキツユクサ葉裏のSEM-EDS分析
- イオン液体を用いたカラーコンタクトレンズ断面のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる低加速電圧でのEDSマップ （材料/触媒・粉体）
- 高感度EDSによる微小粒子の高解像度SEM-EDS元素マッピング （材料/触媒・粉体）
- SEMによるEDS元素マッピング分析時間の検討
- EDS法による不特定微量元素の検出 （材料/金属・無機材料）
- 高感度EDSによる微量元素の検出
- EDSマックスピクセルスペクトラム法による微量元素の検出
- EDSの精度について
- EDS法、WDS法による重複ピークの分析 （材料/金属・無機材料）
- SEMによる破面観察 （材料/高分子材料）
- 炭素繊維強化プラスチックの破断面観察 （材料/高分子材料）
- FIB法を用いた鉄腐食部の断面SEM-EDS分析 （材料/金属・無機材料）
- FIB-SEM法を用いたSiウエハ上異物の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- 低真空SEMによる樹脂中のカーボンナノチューブの観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中のカーボンナノチューブ分散状態SEM観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中カーボンナノチューブ分散状態の立体的観察（ステレオ観察） （材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの長さと直径のSEM測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 反射電子像観察による異物探索 （材料/異物分析）
- SEMによる三次元的な構造のEDS元素マッピングの比較 （材料/異物分析）
- EBSDによる溶接部の評価 （材料/金属・無機材料）
- EBSDによる線材曲げ部の評価 （材料/金属・無機材料）
- EBSDによる線材曲げ部の方位差マップ （材料/金属・無機材料）
- EBSDによる線材破断部付近の調査 （材料/金属・無機材料）
- EBSDによる亜鉛メッキ鋼板の結晶方位解析 （材料/金属・無機材料）
- SEM-EBSDによる炭酸カルシウムの結晶方位解 （材料/金属・無機材料）
- SEM-EBSD、EDS同時測定による同一結晶系材料の相分離 （材料/金属・無機材料）
- SEM-EBSD、EDS同一視野測定によるTi合金のミクロ組織評価 （材料/金属・無機材料）
- FIBマイクロサンプリング法を用いた集積回路配線部のSEM-EDS-EBSD分析
- SEM-EBSD法を用いた指定結晶粒界部のFIB-TEM分析 （エレクトロニクス/記録材料、材料/金属・無機材料）
集束イオンビーム−走査型イオン顕微鏡法（FIB-SIM）
- SIM像を用いたLSIの不良箇所の特定 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- SIM像によるチャネリングコントラスト （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
