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形態観察

新しく開発される材料は、その特性と機能が発現する根拠を、ミクロの目で明らかにしなければなりません。そこに、材料の微小領域を対象とした局所分析の意義があります。有機・無機材料の局所分析は、電子線やイオンを使用する方法によって結晶構造や元素分析、さらに結合状態をナノメーターのレベルで解析しています。この情報と材料の特性・機能の関係をしたベルことから、新素材の可能性を明らかにし、その開発を大きく前進させます。

走査型プローブ顕微鏡法(SPM)

透過電子顕微鏡法(TEM)、走査型透過電子顕微鏡法(STEM)

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走査電子顕微鏡法(1)走査電子顕微鏡法(2)(SEM)

集束イオンビーム−走査型イオン顕微鏡法(FIB-SIM)

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