組成分析と構造解析 電子材料・半導体・金属・セラミックス・セメント・触媒など無機材料の元素分析と、化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、熱的性質の解析などを、広範囲におこなっています。とりわけ、無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、材料をマクロレベルから分子レベルにいたるまで精密に解析し、新素材開発に役立つキャラクタリゼーションをすすめていることが、大きな特徴です。 超微量分析 最新鋭の分析機器と緻密な分析化学手法を用いて、試料に含まれるきわめて微量の元素やイオンの種類・濃度を調べ、純度評価や超微量不純物の分析を行います。クリーンルームテクノリジーを活用した高純度試料の前処理をベースに、高感度・高精度の分析をすすめ、半導体製造用薬品・有機電子材料などにとって、なくてはならない役割を担うとともにクリーンルームの環境評分析もお引き受けしています。
組成分析と構造解析
Ｘ線回折法および小角Ｘ線散乱法（XRD、SAXS）
- 多層薄膜の深さ制御In-Plane回折測定 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- Ｘ線回折による配向度測定 （自動車/高分子材料）
- ポリマーシートの深さ制御 IN-Plane回折測定 （自動車/高分子材料・材料/無機材料、高分子材料）
- 面内回折法による表面構造解析（1） （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- 面内回折法による表面構造解析（2） （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体・材料/高分子材料）
- 反射法による完全極点図形測定 （エレクトロニクス/半導体）
- 多孔質low-k膜ポアサイズ分布解析 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- 高分子表面の分子鎖配向性評価（1） （エレクトロニクス/ディスプレイ・材料/高分子材料、無機材料）
- 高分子表面の分子鎖配向性評価（2） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- 高分子表面の分子鎖配向性評価（3） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- Liイオン電池（正極材）のＸ線回折による構造解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- ナフィオンの小角Ｘ線散乱測定 （材料/高分子材料）
- Ｘ線反射率による多層膜の膜厚、密度、表面（界面）粗さ評価 （材料/無機材料）
- 外部および内部標準による精密格子定数解析 （材料/無機材料）
- 高温Ｘ線回折測定による熱膨張係数の決定 （材料/無機材料）
- 学振法に準拠する炭素材料粉末の評価 （材料/触媒）
蛍光Ｘ線分光分析法（XRF）
- Liイオン電池（正極材）の蛍光Ｘ線による組成分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
電子線プローブ微小部分析法（EPMA）
- ミリングプロによるガラス中埋没物の同定 （材料/異物分析）
透過電子顕微鏡法（TEM）
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 複合材料の総合解析モルフォロジー観察 （自動車/高分子材料）
- カーボンブラック（CB）の3D観察（3次元透過型電子顕微鏡観察） （自動車/高分子材料）
- Cs補正STEM （自動車/パワー半導体）
- ヘテロ接合界面に生成した微小ドメインの解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- TEMによるGaN中転移構造の詳細観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- EELSマッピング （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- GaN中の転位解析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- 結晶性粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- アモルファス粒界構造の解析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- STEM-EDSによるマッピング測定 （エレクトロニクス/記録材料）
- DVD-Rの断面観察（1） （エレクトロニクス/記録材料）
- 粒子径解析ソフトの応用 （エレクトロニクス/記録材料）
- HDD媒体の粒界解析 （エレクトロニクス/記録材料）
- カーボン材料の劣化状態の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- TEMによるブレンドゴムのCBの分析 （材料/高分子材料）
- カラートナーの断面TEM観察 （材料/高分子材料）
- ポリ塩化ビニル製品の表面劣化形態TEM観察 （材料/高分子材料）
- スチレン系ブロック共重合体のTEM観察 （材料/高分子材料）
- ゴム中のフィラーの3D-TEM観察と元素マッピング （材料/高分子材料）
- 高分解能HAADF-STEM像 （材料/無機材料）
- TEMによる単層カーボンナノチューブの直径分布測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- カーボンナノチューブ複合材料のTEM観察 （材料/ナノ材料）
- カーボンナノチューブ（CNT）の低ドーズ測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブ(SWCNT)の高コントラスト測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの直径と積層間隔について （エレクトロニクス/半導体・材料/無機材料、ナノ材料）
走査電子顕微鏡法（1）、走査電子顕微鏡法（2）（SEM）
- 複合材料中充填材の配向度の可視化（成形品の流動解析） （自動車/高分子材料）
- 発光ダイオードの断面観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- Li二次電池正極材料の断面観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の断面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その2 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その3 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- SEMによる 高分子の球晶構造のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる破面観察 （材料/高分子材料）
- 低真空SEMによる樹脂中のカーボンナノチューブの観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中のカーボンナノチューブ分散状態SEM観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中カーボンナノチューブ分散状態の立体的観察（ステレオ観察） （材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの長さと直径のSEM測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 反射電子像観察による異物探索 （材料/異物分析）
超微量分析
誘導結合プラズマ発光分光分析法（ICP-AES）
- Liイオン電池負極活物質中の金属元素分析析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極活物質中の金属元素分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- ICP-AES、ICP-MS、ICによる微量元素（金属・非金属）分析 （ライフサイエンス/医薬・食品）
- 技能試験「茶葉中の無機元素分析」 （ライフサイエンス/食品）
- 技能試験「玄米中の無機元素分析」 （ライフサイエンス/食品）
- カーボンナノチューブに含まれる「金属元素」の分析 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 自動車触媒中のP、Sの分析 （材料/触媒）
- W、Cs担持アルミナ触媒の組成分析 （材料/触媒）
- 技能試験「水中の重金属分析（日環53-10WM）」（材料/無機材料）
加熱気化全自動水銀測定法
高分解能誘導結合プラズマ−質量分析法（HR-ICP-MS）、誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS）
- ICP-MSによるシリコンウエハ表面の金属不純物の定量 （エレクトロニクス/半導体、クリーンルーム環境・材料/無機材料）
- Liイオン電池負極活物質中の金属元素分析析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極活物質中の金属元素分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- ICP-AES、ICP-MS、ICによる微量元素（金属・非金属）分析 （ライフサイエンス/医薬・食品）
- 食品中の微量金属の定量 （ライフサイエンス/食品）
- ICP-MSによる食品容器・包装材料中の有害金属分析 （ライフサイエンス/食品）
- 技能試験「茶葉中の無機元素分析」 （ライフサイエンス/食品）
- HR-ICP-MSによる希土類元素の高感度分析
- セラミックス中の微量特定有害金属の分析（1） （材料/無機材料）
- カーボンナノチューブに含まれる「金属元素」の分析 （材料/ナノ材料）
(黒鉛炉)原子発光分析法((GF)AAS)
- セラミックス中の微量特定有害金属の分析（2） （材料/無機材料）
イオンクロマトグラフ法（IC)
- ICP-AES、ICP-MS、ICによる微量元素（金属・非金属）分析 （ライフサイエンス/医薬・食品）
- イオンクロマトグラフ−質量分析法による不純物の同定 （材料/金属・無機材料）
- イオンクロマトグラフ法によるアミン類の分析 （材料/加熱発生ガス分析）
- アルミナ系触媒中のClの分析 （材料/触媒）
