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無機分析

組成分析と構造解析 電子材料・半導体・金属・セラミックス・セメント・触媒など無機材料の元素分析と、化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、熱的性質の解析などを、広範囲におこなっています。とりわけ、無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、材料をマクロレベルから分子レベルにいたるまで精密に解析し、新素材開発に役立つキャラクタリゼーションをすすめていることが、大きな特徴です。 超微量分析 最新鋭の分析機器と緻密な分析化学手法を用いて、試料に含まれるきわめて微量の元素やイオンの種類・濃度を調べ、純度評価や超微量不純物の分析を行います。クリーンルームテクノリジーを活用した高純度試料の前処理をベースに、高感度・高精度の分析をすすめ、半導体製造用薬品・有機電子材料などにとって、なくてはならない役割を担うとともにクリーンルームの環境評分析もお引き受けしています。


組成分析と構造解析

X線回折法および小角X線散乱法(XRD、SAXS)

蛍光X線分光分析法(XRF)

レーザラマン分光分析法(RAMAN)

電子線プローブ微小部分析法(EPMA)

透過電子顕微鏡法(TEM)

走査電子顕微鏡法(1)走査電子顕微鏡法(2)(SEM)

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超微量分析

誘導結合プラズマ発光分光分析法(ICP-AES)

加熱気化全自動水銀測定法

高分解能誘導結合プラズマ−質量分析法(HR-ICP-MS)、誘導結合プラズマ質量分析法(ICP-MS)

(黒鉛炉)原子発光分析法((GF)AAS)

イオンクロマトグラフ法(IC)

昇温脱離ガス質量分析法(TDS-MS)

 

分析事例

  • 分析対象
  • 自動車
  • エレクトロニクス
  • ライフサイエンス
  • 材料
  • 分析機能(装置)
  • 有機分析
  • 高分子分析
  • 無機分析
  • 表面分析
  • 形態観察
  • 物性試験

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