機能性材料やナノテク材料など先端材料では、表面酸化、腐食、汚染、偏析、膜構造、組成変化、形状変化など、材料の表面に関するさまざまな問題の解明が重要になっています。このような問題に対し、最新鋭の分析機器（ESCA、オージェ、SIMS、EPMA、SPM）を駆使して、材料の表面や界面の情報をとらえ、これらの知見を総合的に判断して、問題の解決にあったています。
Ｘ線光電子分光装置（ESCA（XPS, UPS））
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（1） （エレクトロニクス/半導体）
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（2） （エレクトロニクス/半導体）
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（3） （エレクトロニクス/半導体）
- XPS価電子帯スペクトルによる材料評価 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- XPSによるLiイオン電池正極表面の分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Arガスクラスターイオンビームを用いた有機膜のXPS深さ方向分析 （エレクトロニクス/太陽電池）
- XPSによる有機薄膜太陽電池表面層の深さ方向分析 （エレクトロニクス/太陽電池）
- ESCAによる触媒表面の分析 (S173) （材料/触媒）
走査型オージェ電子分光法（SAM）
- オージェによるウォーターマークの分析 （エレクトロニクス/半導体）
- オージェによるウエハ上のシミ部の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- オージェ及びレーザラマンによるセラミックスの構造評価 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- オージェによる有機EL膜の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- オージェによる異物断面の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- オージェによるリチウムイオン電池正極表面の評価 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
8インチ対応型オージェ電子分光分析法（SMART）
- ウエハ表面の異物の特定 （エレクトロニクス/半導体・材料/異物分析）
二次イオン質量分析法（SIMS）
- SIMSによるチップ断面の分析 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- SIMSによるウエハ表面のAl汚染分析 （エレクトロニクス/半導体）
- D-SIMSの深さ方向面分析（3D）評価 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体・材料/金属・無機材料）
- D-SIMSの面分析における強度比解析 （エレクトロニクス/半導体）
- D-SIMSの面分析におけるラインスキャン解析 （エレクトロニクス/半導体）
- Siウエハ中のBの高感度分析 （エレクトロニクス/半導体）
- SIMS測定における妨害イオン除去法 (1) （エネルギーオフセット法） （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- SIMS測定における妨害イオン除去法 (2) （高質量分解能測定） （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- 走査モード法によるSIMSデプスプロファイル測定 （自動車/パワー半導体）
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）
- TOF-SIMSによる超格子の分析（1） （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによる超格子の分析（2） （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによるウエハ表面の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによる有機材料の表面汚染評価 （材料/異物分析）
- TOF-SIMSによる残存シラノールの分析 （材料/有機材料）
- TOF-SIMSによるカラーフィルタ表面の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- TOF-SIMSによるEL材料の分析（1） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- クラスター型一次イオンを用いた有機顔料の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（1） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（2） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- TOF-SIMSによるLiイオン電池正極表面の分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 生体材料表面分析 （ライフサイエンス/化粧品・材料/異物分析）
電子線プローブ微小部分析法（EPMA）
- ミリングプロによるガラス中埋没物の同定 （材料/異物分析）
走査電子顕微鏡法（1）、走査電子顕微鏡法（2）（SEM）
- 複合材料中充填材の配向度の可視化（成形品の流動解析） （自動車/高分子材料）
- 発光ダイオードの断面観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- Li二次電池正極材料の断面観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の断面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その2 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その3 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- SEMによる 高分子の球晶構造のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる破面観察 （材料/高分子材料）
- 低真空SEMによる樹脂中のカーボンナノチューブの観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中のカーボンナノチューブ分散状態SEM観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中カーボンナノチューブ分散状態の立体的観察（ステレオ観察） （材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの長さと直径のSEM測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 反射電子像観察による異物探索 （材料/異物分析）
走査型プローブ顕微鏡法（SPM）
- 走査型プローブ顕微鏡−ベアリング解析による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 原子間力顕微鏡（AFM）によるエッチング段差測定 （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡−パワースペクトル密度による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡 −電気力顕微鏡− （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による分析の概要 （材料/ナノ材料）
- AFMを用いた単層カーボンナノチューブの長さ解析 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分散状態観察 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 界面活性剤による単層カーボンナノチューブの孤立分散 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの長さ分布に及ぼす界面活性剤濃度の効果 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- ポリマー材料中に分散したカーボンナノチューブの電気力顕微鏡観察 （材料/ナノ材料）
レーザラマン分光分析法（RAMAN）
- レーザラマンによるラミネートフィルムの分析 （ライフサイエンス/医薬）
- ラマン分光法による単層カーボンナノチューブの欠陥評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブのラマンスペクトルに及ぼす励起レーザ光強度の影響 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分析「XPS、ラマン分光法」 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
