機能性材料やナノテク材料など先端材料では、表面酸化、腐食、汚染、偏析、膜構造、組成変化、形状変化など、材料の表面に関するさまざまな問題の解明が重要になっています。このような問題に対し、最新鋭の分析機器（ESCA、オージェ、SIMS、EPMA、SPM）を駆使して、材料の表面や界面の情報をとらえ、これらの知見を総合的に判断して、問題の解決にあったています。
Ｘ線光電子分光装置（XPS/ESCA）、紫外線光電子分光装置（UPS）
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（1） （エレクトロニクス/半導体）
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（2） （エレクトロニクス/半導体）
- ESCAによる表面官能基濃度の定量（3） （エレクトロニクス/半導体）
- XPS価電子帯スペクトルによる材料評価 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- XPSによるLiイオン電池正極表面の分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Ar-GCIBを用いたLiイオン電池負極表面のXPS深さ方向分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Arガスクラスターイオンビームを用いた有機膜のXPS深さ方向分析 （エレクトロニクス/太陽電池）
- XPSによる有機薄膜太陽電池表面層の深さ方向分析 （エレクトロニクス/太陽電池）
- ARXPSによるナノスケール深さ方向分析（材料/高分子材料）
- ESCAによる触媒表面の分析 (S173) （材料/触媒）
- 光電子分光用の前処理装置〜より付着物の少ない前処理へ〜 （材料/無機材料）
- Ar-GCIBを利用した無機材料の化学状態の評価 （材料/無機材料）
- 化学結合状態の温度変化の測定 （材料/無機材料）
- X線光電子装置用前処理装置 (VersaPrep) （材料/無機材料）
走査型オージェ電子分光法（SAM）
- オージェによるウォーターマークの分析 （エレクトロニクス/半導体）
- オージェによるウエハ上のシミ部の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- オージェ及びレーザラマンによるセラミックスの構造評価 （自動車/パワー半導体・エレクトロニクス/半導体）
- オージェによる有機EL膜の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- オージェによる異物断面の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- オージェによるリチウムイオン電池正極表面の評価 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
走査型オージェ電子分光装置 (SMART-200)
- ウエハ表面の異物の特定 （エレクトロニクス/半導体・材料/異物分析）
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）
- TOF-SIMSによる超格子の分析（1） （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによる超格子の分析（2） （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによるウエハ表面の分析 （エレクトロニクス/半導体）
- TOF-SIMSによる有機材料の表面汚染評価 （材料/異物分析）
- TOF-SIMSによる用紙のインクはじき部の分析 （材料/有機材料）
- TOF-SIMSによる残存シラノールの分析 （材料/有機材料）
- TOF-SIMSによるカラーフィルタ表面の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- TOF-SIMSによるEL材料の分析（1） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- クラスター型一次イオンを用いた有機顔料の分析 （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（1） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（2） （エレクトロニクス/ディスプレイ）
- TOF-SIMSによるLiイオン電池正極表面の分析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 生体材料表面分析 （ライフサイエンス/化粧品・材料/異物分析）
電子線プローブ微小部分析法（EPMA）
- ミリングプロによるガラス中埋没物の同定 （材料/異物分析）
- 元素偏在の定量的評価の試み −ジニ係数− （材料/金属・無機材料）
走査電子顕微鏡法（1）、走査電子顕微鏡法（2）（SEM）
- 大きな試料をそのままSEM で観たい （材料/異物分析）
- 複合材料中充填材の配向度の可視化（成形品の流動解析） （自動車/高分子材料）
- 発光ダイオードの断面観察 （自動車/LED素子・エレクトロニクス/半導体）
- Li二次電池正極材料の断面観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の断面SEM観察 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その2 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その3 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 高感度EDSによるLiB用負極内のバインダー・分散剤の分布評価 （自動車/リチウムイオン二次電池）
- 大きな試料のSEM-EDS分析
- SEMによる 高分子の球晶構造のSEM観察 （材料/高分子材料）
- SEMによる各種試料の観察 （材料/高分子材料）
- イオン液体を浸漬させたムラサキツユクサ葉裏のSEM-EDS分析
- イオン液体を用いたカラーコンタクトレンズ断面のSEM観察 （材料/高分子材料）
- 高感度SEM用EDS検出器 （表面分析）
- SEMによる低加速電圧でのEDSマップ （材料/触媒）
- SEMによるEDS元素マッピング分析時間の検討
- EDS法による不特定微量元素の検出 （材料/金属・無機材料）
- 高感度EDSによる微量元素の検出
- EDSマックスピクセルスペクトラム法による微量元素の検出
- EDSの精度について
- EDS法、WDS法による重複ピークの分析 （材料/金属・無機材料）
- SEMによる破面観察 （材料/高分子材料）
- 炭素繊維強化プラスチックの破断面観察 （材料/高分子材料）
- 大腸菌のSEM観察 （材料/高分子材料）
- 低真空SEMによる樹脂中のカーボンナノチューブの観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中のカーボンナノチューブ分散状態SEM観察 （材料/ナノ材料）
- 複合材中カーボンナノチューブ分散状態の立体的観察（ステレオ観察） （材料/ナノ材料）
- 多層カーボンナノチューブの長さと直径のSEM測定 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 反射電子像観察による異物探索 （材料/異物分析）
- EBSDによる線材曲げ部の評価 （材料/無機材料）
- EBSDによる線材曲げ部の方位差マップ （材料/無機材料）
- EBSDによる線材破断部付近の調査 （材料/無機材料）
- EBSDによる亜鉛メッキ鋼板の結晶方位解析 （材料/無機材料）
- SEM-EBSDによる炭酸カルシウムの結晶方位解 （材料/無機材料）
- FIBマイクロサンプリング断面加工試料のSEM-EBSD測定
- SEM-EBSD、EDS同時測定による同一結晶系材料の相分離 （材料/金属・無機材料）
- SEM-EBSD、EDS同一視野測定によるTi合金のミクロ組織評価 （材料/金属・無機材料）
- SEM-EBSD法を用いた指定結晶粒界部のFIB-TEM分析 （エレクトロニクス/記録材料、材料/金属・無機材料）
走査型プローブ顕微鏡法（SPM）
- ピークフォースタッピングモードによる表面形状測定 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡−ベアリング解析による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 原子間力顕微鏡（AFM）によるエッチング段差測定 （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡−パワースペクトル密度による表面形状評価− （エレクトロニクス/半導体）
- 走査型プローブ顕微鏡−電気力顕微鏡− （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による分析の概要 （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による樹脂試料の機械特性測定 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）によるポリマーの機械特性測定例 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）によるゴムの劣化分析 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による粘弾性測定 （材料/高分子材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による複合材料の弾性率分布評価 （材料/金属・無機材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）像中の画像抽出による解析
- 画像解析によるSPM弾性率像への形状の影響の対策
- 吸着力による親水性評価
- ケルビンプローブフォース顕微鏡による表面電位測定
- 拡がり抵抗顕微鏡による抵抗分布測定
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いた導電パス解析 （エレクトロニクス/リチウムイオン二次電池）
- 大腸菌の液中弾性率測定 （材料/高分子材料）
- AFMにおける解析パラメータ
- AFMを用いた単層カーボンナノチューブの長さ解析 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分散状態観察 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 界面活性剤による単層カーボンナノチューブの孤立分散 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの長さ分布に及ぼす界面活性剤濃度の効果 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- ポリマー材料中に分散したカーボンナノチューブの電気力顕微鏡観察 （材料/ナノ材料）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による毛髪表面の観察 （材料/ナノ材料）
レーザラマン分光分析法（RAMAN）
- 壊したくない、開けたくない、速く知りたいなら 顕微ラマン
- 顕微ラマン分光分析によるお手軽・簡易・大気フリー測定
- 顕微ラマン分光分析によるポリマーの定性 （材料/高分子材料）
- 顕微ラマン分光分析によるタンパクとナイロンの識別 （材料/高分子材料）
- レーザラマンによるラミネートフィルムの分析 （ライフサイエンス/医薬）
- ラマン分光法による単層カーボンナノチューブの欠陥評価 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブのラマンスペクトルに及ぼす励起レーザ光強度の影響 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- 単層カーボンナノチューブの分析「XPS、ラマン分光法」 （エレクトロニクス/半導体・材料/ナノ材料）
- カーボン材料のラマンスペクトルの励起波長依存性 （材料/無機材料）
- 顕微ラマン分光分析によるアルミの白化原因究明 （材料/金属・無機材料）
