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F083

nanoIRによる微小領域の分析

微小領域の分析では、一般にIRイメージング法が用いられます。しかし、IRイメージング法の空間分解能はミクロンオーダーであり、それ以下のサイズではデータが平均化され、良いデータを得ることができません。この場合、下記の装置nanoIRを用いることで、より高い空間分解能で分析することが可能です。

装置:Anasys Instrument社製nanoIR(図1)
IR吸収による試料の膨張をAFMのカンチレバーで検出します。このIRとAFMの組み合わせにより、従来の分光学的な限界を超えた数百ナノオーダーの空間分解能でIR吸収の分析をすることができます。
図1:nanoIR
  図1:nanoIR
ナイロン繊維PAがポリエチレンPE中に包埋された試料(図2)の切片を作製し(図3)、nanoIRにより分析しました。
その結果と、同じ試料をIRイメージング法で測定した結果を、図4に示します。IRイメージング法に比較して、nanoIRの方が、高い分解能のIRイメージ像が得られました。

図2: PA/PEのTEM像 図3: PA/PEの切片
  図2:PA/PEのTEM像 図3:PA/PEの切片
図4:IRイメージング法とnanoIRによる測定結果の比較

図4:IRイメージング法とnanoIRによる測定結果の比較


※ このページの内容の一部は、Anasys Instruments社HP(http://www.anasysinstruments.com/)から引用しています。(2014年1月時点)

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