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F084

nanoTAによる微小領域の分析

近年、著しいナノテクノロジーの発展に伴って、微小領域の分析が重要になってきています。しかし、従来のDSCなどの熱分析手法は、バルク試料を対象にしており、微小領域を分析することは困難です。この場合、下記の装置nanoIRのnanoTAの機能を用いることで、微小領域の熱物性を評価することが可能です。

装置:Anasys Instrument社製nanoIR(図1)
nanoTAでは、加熱機構を有するカンチレバーで試料のAFM像を得た後、目的箇所を加熱します。加熱に伴い試料が軟化すると、カンチレバーが試料内部へ侵入します。このカンチレバーの変位を検出することにより、試料の微小領域の軟化点を評価することが可能です。
図1:nanoIR
  図1:nanoIR

ナイロン繊維PAがポリエチレンPE中に包埋された試料(図2)のAFM像を取得し(図3)、nanoTAにより分析しました。その結果を、図4に示します。ナイロン繊維の200℃付近の軟化点と、ポリエチレンの100℃付近の軟化点が、明確に分かれて測定されました。

図2: PA/PEのTEM像
図2:PA/PEのTEM像
図4: nanoTAの測定結果
図4:nanoTAの測定結果
図3:PA/PEのAFM像
図3:PA/PEのAFM像

※ このページの内容の一部は、Anasys Instruments社HP(http://www.anasysinstruments.com/)から引用しています。(2014年1月時点)

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