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F086

微小領域分析におけるnanoIRとFT-IRの比較

FT-IR法には様々な測定手法がありますが、その空間分解能は最高でもμmオーダーであり、それ以下の微小領域では良いデータを得ることができません。この場合、nanoIRを用いることで、より高い空間分解能で分析することが可能です。FT-IR法とnanoIRでは、測定の原理は全く異なりますが、得られる両者のスペクトルは類似しています。

装置:Anasys Instrument社製nanoIR(図1)
IR吸収による試料の膨張をAFMのカンチレバーで検出します(図2)。このIRとAFMの組み合わせにより、従来の分光学的な限界を超えた数百nmの空間分解能でIR吸収の分析をすることができます。
図2:測定の原理
図1:装置の概観
図1:装置の概観 図2:測定の原理

ポリスチレンの薄片を作製しnanoIRにより分析しました。得られたnanoIRスペクトルをFT-IRスペクトルとともに、図3に示します。測定原理の違いから吸収強度は異なりますが、両者のスペクトルは類似しています。そのため、従来のFT-IR用データベースをnanoIRの解析に利用することが可能です。

図3:ポリスチレンのnanoIRスペクトル(赤)とFT-IRスペクトル(青)

図3:ポリスチレンのnanoIRスペクトル(赤)とFT-IRスペクトル(青)


※ このページの内容の一部は、Anasys Instruments社HP(http://www.anasysinstruments.com/)から引用しています。(2014年3月時点)

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