HOME > 分析対象 > 材料 > 高分子材料
F087

nanoTAによる微小領域の分析(2)

近年、著しいナノテクノロジーの発展に伴って、微小領域の分析が重要になってきています。しかし、従来のDSCなどの熱分析手法は、バルク試料を対象にしており、微小領域を分析することは困難です。この場合、下記の装置nanoIRのnanoTAの機能を用いることで、微小領域の熱物性を評価することが可能です。

装置:Anasys Instrument社製nanoIR(図1)
nanoTAでは、加熱機構を有するカンチレバーで試料のAFM像を得た後、目的箇所を加熱します。加熱に伴い試料が軟化すると、カンチレバーが試料内部へ侵入します。このカンチレバーの変位を検出することにより、試料の微小領域の軟化点を評価することが可能です。測定の模式図を図2に示します。
図2:nanoTA測定模式図
図1:装置の概観
図1:装置の概観 図2:nanoTA測定模式図

ポリエチレンテレフタレートPETのフィルムをnanoTAで分析した結果を、図3に示します。PETの軟化点が約235℃と測定されました。また、測定後のPET表面のAFM像を図4に示します。カンチレバーが試料に侵入した跡と、その周囲500nmの領域が軟化した様子が観察されます。このように、材料によって違いはあるものの、数百nmの微小領域の熱物性を評価することが可能です。

図3:nanoTAの測定結果    図4:nanoTA測定後のAFM像
図3:nanoTAの測定結果    図4:nanoTA測定後のAFM像

※ このページの内容の一部は、Anasys Instruments社HP(http://www.anasysinstruments.com/)から引用しています。(2014年3月時点)

前のページに戻るこのページのトップへ