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X139

SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価

走査型電子顕微鏡(SEM)と粉末X線回折法(XRD)を用いた、多層カーボンナノチューブ(MWCNT)の直径評価をご紹介します。

試料としてNTP社製のL-MWNTsシリーズを使用して評価を実施しました。横軸の直径はSEM写真(×50,000倍)を撮影し、約40箇所の外形計測結果から平均値と標準偏差を算出した結果です。縦軸はグラファイト001回折線に対応する回折プロファイルより求めた1/半値幅(n=3)となっています。

SEM による直接観察結果から求められた直径と試料全体を反映するXRDの半値幅との間に、とてもきれいな相関が得られたことから、多層カーボンナノチューブの直径のマクロな領域での評価に、XRDで対応できることが判りました。

図:直径と半値幅の関係

図:直径と半値幅の関係

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