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新規導入装置

導入年度 装置名 略号 メーカー 型番
2021年 有機元素分析装置 CHNOS エレメンター・ジャパン vario EL cube
2020年 核磁気共鳴装置(溶液NMR)400MHz NMR 日本電子 JNM-ECZ400S
2019年 走査型プローブ顕微鏡法
(Dimension XR)
SPM ブルカージャパン Dimension XR
2019年 イオンクロマトグラフ-質量分析計(IC-MS)(陽イオン分析システム) 陽IC-MS サーモフィッシャーサイエンティフィック ICS-6000型 + ISQ EC型
2018年 液体クロマトグラフ-ハイブリッド型質量分析法(質量分析部:Orbitrap 型) LC-MS サーモフィッシャーサイエンティフィック Q-Exactive Focus
2018年 マルチ型ICP発光分光分析装置(ICP-AES) ICP-AES アジレント・テクノロジー Agilent 5110 VDV
2018年 核磁気共鳴装置(Cryo Probe 付属) NMR ブルカージャパン AVANCE NEO 600(本体),
5mm DCH 600MHz Z-Gradient(Cryo Probe)
2017年 高温ゲル浸透クロマトグラフ 高温GPC Agilent PL-GPC22
2017年 粉体封じ込め(コンテインメント)秤量システム   a1-Safetech ST1-900CV3/S-110
2017年 崩壊試験器   富山産業 NT-400
2017年 浸透圧計   Gonotec OSMOMAT 3000(D)
2017年 TEM/STEMトモグラフィ   システムインフロンティア  
2016年 X線光電子装置用前処理装置 (VersaPrep) XPS/ESCA ULVAC-PHI 社製 Versaprep
2016年 コロナ荷電化粒子検出器 Corona CAD サーモフィッシャーサイエンティフィック Corona™Veo™
2016年 ナノインデンター   HYSITRON TI Premier Multi Scale
2016年 球面収差補正STEM STEM 日本電子 JEM-ARM200F
2016年 マトリックス支援レーザー脱離イオン化-タンデム飛行時間型質量分析計 MALDI-TOF/TOF-MS ブルカー・ダルトニクス rapifleX TOF/TOF
2016年 マイクロ波試料前処理装置   アントンパール Multiwave PRO
2016年 比表面積・細孔径分析装置   Quantachrome QUADRASORB evoTM
2015年 誘導結合プラズマ質量分析装置 ICP-MS Agilent technologies 8800
2015年 イオンクロマトグラフ−質量分析計 IC-MS サーモフィッシャーサイエンティフィック ICS-2100 + MSQ PLUS
2015年 トリプルビーム(FIB-SEM-Ar)複合装置の大気遮断対応     VTD2500
2015年 ガスクロマトグラフ−四重極飛行時間型質量分析計 GC-Q-TOF/MS Agilent technologies 7200B
2015年 ガスクロマトグラフ−質量分析計 GC/MS Agilent technologies 5977
2015年 昇温脱離ガス質量分析計 TDS-MS 電子科学 TDS1200U
2014年 フーリエ変換赤外分光法
シールド加熱ダイヤモンド ATR
  Specac  
2014年 マルチ型ICP発光分光分析装置 ICP-AES 島津製作所製 ICPE-9820
2014年 加圧型マイクロ波分解装置 UltraWAVE マイルストーン ゼネラル  
2014年 固体の電子構造計算プログラム:EELS理論計算 WIEN2k    
2014年 TEMひずみ解析ソフト PPA HREM Research  
2014年 無機元素分析法(C、S) EA LECO CS844
2014年 固体粘弾性測定装置   TA Instruments RSA-G2
2014年 熱機械分析装置 (調湿)TMA ネッチ・ジャパン TMA-4000SE+HC9700
2013年 電子線マイクロアナライザー FE-EPMA 日本電子製 RJXA-8530F
2013年 走査型プローブ顕微鏡 SPM ブルカー MultiMode8 (NanoScope V)
2013年 透過型電子顕微鏡 TEM 日立ハイテクノロジーズ HT7700
2013年 透過電子後方散乱回折 t-EBSD TSL OIM
2013年 大気非曝露冷却クロスセクションポリッシャ CP 日本電子 IB-09020CP
2013年 走査型電子顕微鏡 SEM 日本電子 JSM-7800F
2013年 電子後方散乱回折 EBSD TSL OIM
2013年 高感度示差走査熱量計(熱流束型) DSC 日立ハイテクサイエンス X-DSC7000
2013年 Nano IR/TA:AFM-IR Spectroscopy Nano IR/TA Anasys Instrument  
2013年 光安定性試験装置   ナガノサイエンス LTL-200A5-14WCD

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