STEMトモグラフィによる貴金属担持カーボン触媒の3D解析（1）

貴金属担持カーボン触媒は細孔を有する担持カーボンを利用することにより、ナノサイズの貴金属触媒を担体外部のみならず、担体内部にも配置することで性能向上が図られています。そのため、ナノメートルオーダーで三次元構造を解析することが重要となります。
図1にSTEMトモグラフィによる三次元再構成像を示します。明るく観察される粒子が貴金属触媒に対応します。Z方向のスライス像（図2）において、カーボン内部に細孔や貴金属触媒が存在することが分かります。貴金属触媒、カーボン、細孔をそれぞれセグメンテーション（領域分割）したデータを図3に示します。さらに、貴金属触媒を外部粒子と内部粒子に区別することも可能です。

図1：三次元再構成像	図2：Zスライス像
図3：セグメンテーションデータ	図4：セグメンテーションデータ