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S443

Arガスクラスターイオンビームを用いた有機膜のXPS深さ方向分析

有機薄膜太陽電池に用いられる有機膜(P3HT:PCBM、PEDOT:PSSの2層構造)について、通常のArイオン(Arモノマー)とArガスクラスターイオンを用いたXPS深さ方向分析を行い、膜中のSとOに顕著な違いが認められました。有機膜の深さ方向分析にはArガスクラスターイオンが有効であることが分かります。

試料構造

試料構造

有機膜(P3HT:PCBM、PEDOT:PSSの2層構造)の構造と深さ方向分析結果

有機膜(P3HT:PCBM、PEDOT:PSSの2層構造)の構造と深さ方向分析結果

(試料提供:富士電機株式会社)

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