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X0510

試料水平型回転対陰極式多目的X線回折装置(XRD)

1. メーカー・型式

リガク製     RINT-TTRIII

2. 原理・特徴

写真:RINT-TTRIII装置
  1. 原理は通常のX線回折法です。
  2. 従来のゴニオメータ半径より100mm延長を実現し高分解能測定が可能です。
  3. 試料を完全な水平に固定し、平行ビーム光学系により試料とその表面形態の自由度を向上、さらに温度等の雰囲気を可変とするin-situ測定も可能となっています。
  4. 高い角度精度、分解能とX線強度による正確な回折強度測定が可能であり、粉末結晶構造解析やリートベルト法による構造精密化に最適です。

3. 性能・仕様

X線源 Cu、18kW
入射光学系 人工多層膜放物面ミラー(ビーム平行化)
精密ゴニオメータ θ/θ(試料完全水平)型285mm半径
アタッチメント 高温、多目的、キャピラリー回転
受光光学系 平行スリットアナライザ(長尺スリット)

4. 試料量

小スパチュラ1杯の粉末、15mm角以内のバルク

5. 分析依頼の際の留意点

粉末結晶構造解析は十分な試料量にてお願いします。

6. 応用分野・分析例

様々な産業分野および研究分野に応用される

  • 微量成分や微量試料の化合物特定
  • 触媒材料等の結晶子サイズと格子歪評価
  • 無機・有機材料の精密格子定数測定
  • 相転移材料の温度依存結晶構造解析
  • リートベルト法による構造の精密化
  • 粉末結晶構造解析
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