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X121

ポリマーシートの深さ制御In-Plane回折測定
−極表面の規則構造評価−

全反射臨界角度近傍の極めて低い照射角でX線を入射して得られる面内(In-Plane)回折X線により極表面の結晶構造が評価できます。この入射角度を精密に制御することにより、深さ方向での構造解析が可能であり、ポリプロピレン製シートでの実施例を報告します。

試料 ポリプロピレン製のファイリング用シート
装置 理学電機製 ATX-G型 表面構造評価用 多機能X線回折装置

下図に測定結果を示します。ポリプロピレンシート最表面の結晶性は低く、内部(バルク)では結晶性が高まっていると推察されます。

図:PPシート深さ制御In-Plane回折測定チャート

図:PPシート深さ制御In-Plane回折測定チャート

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