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B1001

ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置

1. メーカー・型式

Malvern製     Zetasizer Nano ZS

2. 概要

ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置は、光散乱法を利用して非接触で溶液中の微粒子のゼータ電位、粒子径、分子量を測定する装置です。
ゼータ電位測定は、試料に電場を加え電気泳動を行い、粒子の移動速度をレーザードップラー速度測定法によって測定し、ヘンリーの式を適用してゼータ電位を求めます。粒子径測定は、動的光散乱法(DLS)を用い、ブラウン運動する粒子の散乱強度を測定し、その強度の時間的変動から粒子径とその分布を求めます。分子量測定は、静的光散乱法(SLS)を用い、各種試料濃度での散乱光量を測定し、デバイプロットすることで分子量を求めます。

(左)写真:装置概観 (右)図:光学系

3. 性能・特徴

レーザー仕様:4mW He-Ne 633nm

ゼータ電位測定

測定原理 電気泳動光散乱法(LDV法1)/M3-PALS2)
粒子径範囲 5nm〜10μm*
最小サンプル量 0.75ml
電気導電率(最大) 200ms/cm

  1)LDV法:Laser Doppler Velocimetry(レーザ・ドップラー速度測定)
  2)M3-PALS:Mixed Mode Measurement-Phase Analysis Light Scattering
   (混合モード測定法と光散乱位相解析の組合わせ)
   *試料に依存する。

粒子径測定

測定原理 動的光散乱法(NIBS4)
測定レンジ 0.6nm〜6μm(流体力学的径)
最小サンプル量 12μl
濃度範囲 0.1ppm 〜 40wt%*
散乱角度 173°

  4)NIBS : Non-Invasive Back-Scatter(非接触後方光散乱法)
   *試料に依存する。

分子量測定

測定原理 静的光散乱法、デバイプロット
測定レンジ 1×103〜2×107Da
最小サンプル量 12μl

その他

(1)自動滴定装置(MPT-2)によるpHタイトレーション測定
(2)温度依存性測定
温度制御 2℃〜90℃(キャピラリーセル使用時は2℃〜70℃)
結露制御 乾燥空気によるパージ(低温測定時に必要)

4. 応用分野・分析事例

セラミック、触媒、電池材料、医薬、食品

  • ナノ粒子の粒度分布評価
  • 分散安定性の評価
  • 液中の構造変化
  • 分子量の測定
  • 生体高分子のキャラクタリゼーション
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