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新規導入装置

導入年度 装置名 略号 メーカー 型番
2017年 TEM/STEMトモグラフィ NEW   システムインフロンティア  
2016年 コロナ荷電化粒子検出器 Corona CAD サーモフィッシャーサイエンティフィック Corona™Veo™
2016年 ナノインデンター   HYSITRON TI Premier Multi Scale
2016年 球面収差補正STEM STEM 日本電子 JEM-ARM200F
2016年 マトリックス支援レーザー脱離イオン化-タンデム飛行時間型質量分析計 MALDI-TOF/TOF-MS ブルカー・ダルトニクス rapifleX TOF/TOF
2016年 マイクロ波試料前処理装置   アントンパール Multiwave PRO
2016年 比表面積・細孔径分析装置   Quantachrome QUADRASORB evoTM
2015年 誘導結合プラズマ質量分析装置 ICP-MS Agilent technologies 8800
2015年 イオンクロマトグラフ−質量分析計 IC-MS サーモフィッシャーサイエンティフィック ICS-2100 + MSQ PLUS
2015年 トリプルビーム(FIB-SEM-Ar)複合装置の大気遮断対応     VTD2500
2015年 ガスクロマトグラフ−四重極飛行時間型質量分析計 GC-Q-TOF/MS Agilent technologies 7200B
2015年 ガスクロマトグラフ−質量分析計 GC/MS Agilent technologies 5977
2015年 昇温脱離ガス質量分析計 TDS-MS 電子科学 TDS1200U
2014年 フーリエ変換赤外分光法
シールド加熱ダイヤモンド ATR
  Specac  
2014年 マルチ型ICP発光分光分析装置 ICP-AES 島津製作所製 ICPE-9820
2014年 加圧型マイクロ波分解装置 UltraWAVE マイルストーン ゼネラル  
2014年 固体の電子構造計算プログラム:EELS理論計算 WIEN2k    
2014年 TEMひずみ解析ソフト PPA HREM Research  
2014年 無機元素分析法(C、S) EA LECO CS844
2014年 固体粘弾性測定装置   TA Instruments RSA-G2
2014年 熱機械分析装置 (調湿)TMA ネッチ・ジャパン TMA-4000SE+HC9700
2013年 電子線マイクロアナライザー FE-EPMA 日本電子製 RJXA-8530F
2013年 走査型プローブ顕微鏡 SPM ブルカー MultiMode8 (NanoScope V)
2013年 透過型電子顕微鏡 TEM 日立ハイテクノロジーズ HT7700
2013年 透過電子後方散乱回折 t-EBSD TSL OIM
2013年 大気非曝露冷却クロスセクションポリッシャ CP 日本電子 IB-09020CP
2013年 走査型電子顕微鏡 SEM 日本電子 JSM-7800F
2013年 電子後方散乱回折 EBSD TSL OIM
2013年 高感度示差走査熱量計(熱流束型) DSC 日立ハイテクサイエンス X-DSC7000
2013年 Nano IR/TA:AFM-IR Spectroscopy Nano IR/TA Anasys Instrument  
2013年 光安定性試験装置   ナガノサイエンス LTL-200A5-14WCD
2012年 液体クロマトグラフ−ハイブリッド型質量分析計
(有機分析/高分子分析)
LC-MS/MS Waters SYNAPT G2-S
HDMS型
2012年 熱分解ガスクロマトグラフ−質量分析計 Py-GC/MS 日本電子
フロンティアラボ
JMS-Q1050GC
PY-4030D
2012年 示差走査熱量計 DSC SIIナノテクノロジー DSC7020
2012年 示差熱分析熱重量同時測定装置 TG/DTA SIIナノテクノロジー TG/DTA7300
2012年 蛍光X線分析装置 XRF リガク ZSX Primus
2012年 全反射蛍光X線分析装置 TXRF リガク NANOHUNTER
2011年 核磁気共鳴装置(Cryo Probe付属)
(有機分析/高分子分析)
溶液NMR Bruker BioSpin AVANCE500
2011年 多機能走査型X線光電子分光装置
(表面分析)
ESCA(XPS、UPS) ULVAC-PHI PHI5000
VersaProbeII
2011年 Cs(球面収差)補正STEM
(形態観察)
STEM 日本電子 JEM-2100F
2010年 デジタルマイクロスコープ
(高分子分析)
  キーエンス VHX-1000
2010年 酸素・窒素・水素同時分析装置   LECO TCH600型
2010年 シーケンシャル型ICP発光分光分析装置
(無機分析)
ICP-AES SIIナノテクノロジー SPS3520UV
2010年 ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置
(物性試験)
  Malvern Zetasizer Nano ZS
2010年 固体試料用ゼータ電位測定装置
(物性試験)
  Anton Paar SurPASS
2010年 触針式表面形状測定器
(表面分析)
  ULVAC Dektak 150
2009年 トリプルビーム複合装置
(形態観察)
FIB-SEM-Ar SIIナノテクノロジー XVision200TB
2009年 原子発光検出器付ガスクロマトグラフ
(有機分析)
GC-AED joit analytical systems
Agilent technologies
2390AA
6890N
2009年 核磁気共鳴装置(溶液NMR)400MHz
(有機分析/高分子分析)
溶液NMR 日本電子 ECA400
2009年 核磁気共鳴装置(固体NMR)400MHz
(有機分析/高分子分析)
固体NMR 日本電子 ECA400
2009年 誘導結合プラズマ質量分析装置 ICP-MS パーキン・エルマー Elan DRCII型
2009年 レーザー回析・散乱式粒度分布測定装置
(物性試験)
  堀場製作所 LA-950V2
2009年 クロスセクションポリッシャ
(形態観察)
CP 日本電子 SM-09020
2009年 卓上傾斜切削機
(表面分析)
  NEAT  
2008年 レーザラマン分光装置
(表面分析)
RAMAN 日本分光 NRS-3300
2008年 触媒分析装置(流通式化学吸着測定装置)
(物性試験)
  日本ベル BELCAT-B
2008年 イオンクロマトグラフ(陽イオン分析システム)
(無機分析)
IC Dionex ICS-3000型
2008年 イオンクロマトグラフ(陰イオン分析システム)
(無機分析)
IC Dionex ICS-2000型
ICS-1500型
ICS-1000型
DX-500型
2008年 小角X線散乱装置
(高分子分析)
SAXS リガク NANO-Viewer
2008年 蒸発型光散乱検出器 ELSD 日本ウォーターズ
SofTA
2424型
300S型

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