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金属・無機材料

誘導結合プラズマ質量分析装置

金属・無機材料は電子材料・半導体・金属・セラミックス・セメントなどに多用されています。これらの研究開発には、無機材料の元素分析と、化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、熱的性質の解析などが必要です。

弊社は、無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、材料をマクロレベルから分子レベルにいたるまで精密に解析し、新素材開発に役立つキャラクタリゼーションをすすめていることが、大きな特徴です。

構造解析

無機材料の元素分析と、化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、熱的性質の解析などを、広範囲におこなっています。

分析項目

分析項目 使用機器・手法 分析事例
(結晶)構造解析 XRF、XRDRamanTEMFT-IR固体NMRTOF-SIMS 多層カーボンナノチューブの直径と積層間隔について
顕微ラマン分光分析による結晶形の評価
電子回折法による土壌鉱物の同定
サファイア基板上低温バッファ層のモザイク構造解析
GaN反転ドメイン境界の構造解析
精密格子定数の決定 外部および内部標準による精密格子定数解析
温度上昇に伴う相変化の追跡 高温X線回折測定による熱膨張係数の決定
結晶性、配向性、結晶子径の測定 偏光ラマン分光法によるPbTiO3結晶膜の配向性評価
偏光ラマン分光法によるPbTiO3結晶膜の配向状態マッピング
学振法に準拠する炭素材料粉末の評価
EBSDによる線材曲げ部の評価
EBSDによる線材曲げ部の方位差マップ
EBSDによる線材破断部付近の調査
EBSDによる亜鉛メッキ鋼板の結晶方位解析
SEM-EBSD、EDS同時測定による同一結晶系材料の相分離
SEM-EBSD、EDS同一視野測定によるTi合金のミクロ組織評価
EBSD-FIBによる任意方位TEM試料作製
反射率解析による多層薄膜構造評価 X線反射率による多層膜の膜厚、密度、表面(界面)粗さ評価
リートベルト法による結晶構造解析 リチウムイオン二次電池の正極活物質のリートベルト解析
面内回折法による表面構造解析 面内回折法による表面構造解析(2)
化学状態分析 ラマン分光法による溶液中のヨウ素の定量的評価
カーボン材料のラマンスペクトルの励起波長依存性
顕微ラマン分光分析によるアルミの白化原因究明
TOF-SIMSによる無機ケイ素化合物の化学状態分析
Ar-GCIBを利用した無機材料の化学状態の評価
電子エネルギー損失分光(EELS)
Electron Energy Loss Spectroscopy(EELS)スペクトル解析
化学結合状態の温度変化の測定
セラミックスの界面構造の分析 HAADF-STEMによる結晶粒界の観察
Si半導体の平面・断面分析 断面TEMによる研磨面の評価
高分解能HAADF-STEM像
D-SIMSによる構造解析 SIMS D-SIMSの深さ方向面分析(3D)評価
FIB-SEMによる三次元構造解析 FIB-SEM FIB-SEM法による樹脂中フィラーの三次元構造解析

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無機組成分析

最新鋭の分析機器と緻密な分析化学手法を用いて、試料に含まれるきわめて微量の元素やイオンの種類・濃度を調べ、純度評価や超微量不純物の分析をおこないます。

前処理

分析項目

   
分析項目 使用機器・手法 分析事例
主成分分析 化学分析 二酸化ケイ素凝集重量法による炭化ケイ素中のSiの定量
EDTA滴定法による酸化マグネシウム中のMgの定量
滴定法・重量分析法による高精確分析
硝酸カリウムの純度分析
凝集・重量法によるホウケイ酸ガラス中の高精確Si分析
価数別分析の紹介「灰分中の5価Vの分析」
Mnの平均価数分析
微量不純物分析 IC(1)IC(2)ICP-MSICP-AESHR-ICP-MS HR-ICP-MSによる希土類元素の高感度分析
HR-ICP-MS法(有機溶媒直接導入測定)による有機溶媒中のシリコンの定量分析
ICP-MSによるシリコンウエハー表面の金属不純物の定量
固相抽出/ICP-MSによるK2CO3中のCoの定量分析
セラミックス中の微量特定有害金属の分析(1)
セラミックス中の微量特定有害金属の分析(2)
イオンクロマトグラフ−質量分析法による不純物の同定
イオンクロマトグラフ−質量分析計による六価クロムの定量分析
イオンクロマトグラフによるアセトニトリル中の陰イオンの定量分析
ICによる残存シラノールの分析
金属製品中の特定有害金属の分析
クリーンルーム中の金属元素および陰イオンの分析
ポリマー中の微量金属の分析
有機溶媒中や水中の微量陰イオンの分析
ICP-AES による半定量分析
RoHS関連分析
認証標準物質NMIJ CRMの分析「炭化けい素中の微量元素分析」
認証標準物質NMIJ CRMの分析「河川水中の微量元素分析」
技能試験「水中の重金属分析(日環53-10WM)」
技能試験「水中の陰イオン分析」

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